SHINKO CO.,LTD.

產品介紹

product

超音波局部除塵設備 PEN-G / PEN-S

  • 高壓
  • 超音波
  • 非接觸
  • # 局部
  • # 半導體
  • 採用空氣超音波的
    手持式除塵設備
  • 最適合局部除塵
PEN-G:手持(噴槍)式 PEN-S:固定式

PEN-G:手持(噴槍)式
PEN-S:固定式

01結構圖

結構圖

02測試結果

基材
玻璃基板
粉塵
3µm
樹脂微粒
吹氣壓力
0.25 MPa
與基材的間隙
13.5mm

玻璃表面檢查裝置(GI-4600)的測量數據

除塵前

除塵前

除塵後

除塵後

此為在伸興無塵室進行的測試結果,去除率可能會因粉塵種類、測試條件等而變化。

03應用(範例)

半導體

半導體

諮詢

總公司、工廠/OSAKA

TEL81-6-6553-1062